Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Diaz Llorente, C."'
Autor:
Diaz Llorente, C., Colinge, J.-P., Martinie, S., Cristoloveanu, S., Wan, J., Le Royer, C., Ghibaudo, G., Vinet, M.
Publikováno v:
In Solid State Electronics September 2019 159:26-37
Autor:
Diaz Llorente, C., Le Royer, C., Batude, P., Fenouillet-Beranger, C., Martinie, S., Lu, C.-M.V., Allain, F., Colinge, J.-P., Cristoloveanu, S., Ghibaudo, G., Vinet, M.
Publikováno v:
In Solid State Electronics June 2018 144:78-85
Publikováno v:
EUROSOI-ULIS 2015: 2015 Joint International EUROSOI Workshop & International Conference on Ultimate Integration on Silicon; 2015, p281-284, 4p
Autor:
Aishwarya, K.1 (AUTHOR), Lakshmi, B.2 (AUTHOR) lakshmi.b@vit.ac.in
Publikováno v:
Radiation Effects & Defects in Solids: Incorporating Plasma Techniques & Plasma Phenomena. Mar/Apr2023, Vol. 178 Issue 3/4, p229-257. 29p.
Autor:
Raj, Abhishek, Sharma, Shashi Kant
Publikováno v:
Journal of Electronic Materials; Feb2024, Vol. 53 Issue 2, p766-772, 7p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
SILICON (1876990X); Feb2023, Vol. 15 Issue 3, p1325-1338, 14p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Orji, N. G., Badaroglu, M., Barnes, B. M., Beitia, C., Bunday, B. D., Celano, U., Kline, R. J., Neisser, M., Obeng, Y., Vladar, A. E.
Publikováno v:
Nature Electronics; Oct2018, Vol. 1 Issue 10, p532-547, 16p