Zobrazeno 1 - 10
of 846
pro vyhledávání: '"Dhez, P."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jessie A. Posar, Jeremy Davis, Owen Brace, Paul Sellin, Matthew J. Griffith, Olivier Dhez, Dean Wilkinson, Michael L.F. Lerch, Anatoly Rosenfeld, Marco Petasecca
Publikováno v:
Physics and Imaging in Radiation Oncology, Vol 14, Iss , Pp 48-52 (2020)
Background and purpose: Measurement of dose delivery is essential to guarantee the safety of patients undergoing medical radiation imaging or treatment procedures. This study aimed to evaluate the ability of organic semiconductors, coupled with a pla
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3f97f76cfa3a40bf898e44639e0eb63a
Autor:
Rodrigues, Mario, Dhez, Olivier, Denmat, Simon Le, Chevrier, Joel, Felici, Roberto, Comin, Fabio
Publikováno v:
JINST 3:P12004,2008
The in situ combination of Scanning Probe Microscopies (SPM) with X-ray microbeams adds a variety of new possibilities to the panoply of synchrotron radiation techniques. In this paper we describe an optics-free AFM/STM that can be directly installed
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0806.0563
Autor:
Siria, A., Rodrigues, M. S., Dhez, O., Schwartz, W., Torricelli, G., Denmat, S. Le, Rochat, N., Auvert, G., Bikondoa, O., Metzger, T. H., Wermeille, D., Felici, R., Comin, F., Chevrier, J.
Nanoelectromechanical Systems (NEMS) are among the best candidates to measure interactions at nanoscale [1-6], especially when resonating oscillators are used with high quality factor [7, 8]. Despite many efforts [9, 10], efficient and easy actuation
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0801.2050