Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Dhavlle, Abhijitt"'
Autor:
Dhavlle, Abhijitt
Consumer and defense systems demanded design and manufacturing of electronics with increased performance, compared to their predecessors. As such systems became ubiquitous in a plethora of domains, their application surface increased, thus making the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2208.08689
A Novel Malware Detection Mechanism based on Features Extracted from Converted Malware Binary Images
Autor:
Dhavlle, Abhijitt, Shukla, Sanket
Our computer systems for decades have been threatened by various types of hardware and software attacks of which Malwares have been one of them. This malware has the ability to steal, destroy, contaminate, gain unintended access, or even disrupt the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2104.06652
Autor:
Dhavlle, Abhijitt
Evolving attacks on the vulnerabilities of the computing systems demand novel defense strategies to keep pace with newer attacks. This report discusses previous works on side-channel attacks (SCAs) and defenses for cache-targeted and physical proximi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2104.04054
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mountford, Thomas, Dhavlle, Abhijitt, Tevebaugh, Andrew, Mansoor, Naseef, Dinakarrao, Sai Manoj Pudukotai, Ganguly, Amlan
Publikováno v:
Journal of Low Power Electronics & Applications; Sep2023, Vol. 13 Issue 3, p50, 15p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pudukotai Dinakarrao, Sai Manoj, Amberkar, Sairaj, Bhat, Sahil, Dhavlle, Abhijitt, Sayadi, Hossein, Sasan, Avesta, Homayoun, Houman, Rafatirad, Setareh
Publikováno v:
DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference; 2019, Issue 56, p151-156, 6p