Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Derek C. Wrobbel"'
Autor:
Aswin N. Mehta, Kenneth E. Krause, Brad E. Campbell, John M. Carulli, Fred A. Valente, Derek C. Wrobbel
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
It is critical for success in the microprocessor business to understand the relationship between yield and speed- performance. This paper outlines a method for modeling device speed distribution and yield using on-chip ring-oscillator measurements. T
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7eab9c34d677ba9bec21eb0b5b3e42ff
https://doi.org/10.1117/12.361341
https://doi.org/10.1117/12.361341
Autor:
Derek C. Wrobbel, Kevin L. Walker
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Rapidly changing demands in the microprocessor industry require that new products be quickly brought to volume production on the fastest fabrication process available. Two key metrics of success for manufacturing start-up of a microprocessor are manu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::79a9c02e2b2c2a3841d4aafb960dbd90
https://doi.org/10.1117/12.250841
https://doi.org/10.1117/12.250841
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.