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pro vyhledávání: '"Depuración integrada en el chip"'
Autor:
José Isaza-González, Alejandro Serrano-Cases, Felipe Restrepo-Calle, Sergio Cuenca-Asensi, Antonio Martínez-Álvarez
Publikováno v:
Revista de I + D Tecnológico, Vol 13, Iss 1, Pp 5-14 (2017)
Este artículo presenta una herramienta de inyección de fallos y la metodología para la realización de campañas de inyección de Single-Event-Upsets (SEUs) en microprocesadores Commercial-off-the-shelf (COTS). Este método utiliza las ventajas qu
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e6363de25579401497d06314ac7f75b4
Autor:
Isaza-González, José, Serrano-Cases, Alejandro, Restrepo Calle, Felipe, Cuenca-Asensi, Sergio, Martínez-Álvarez, Antonio
Publikováno v:
RUA. Repositorio Institucional de la Universidad de Alicante
Universidad de Alicante (UA)
Revista de I + D Tecnológico, Vol 13, Iss 1, Pp 5-14 (2017)
I+D Tecnológico; Vol. 13, Núm. 1 (2017): Revista I+D Tecnológico; 8-17
Universidad de Alicante (UA)
Revista de I + D Tecnológico, Vol 13, Iss 1, Pp 5-14 (2017)
I+D Tecnológico; Vol. 13, Núm. 1 (2017): Revista I+D Tecnológico; 8-17
This paper presents a fault injection tool and methodology for performing Single-Event-Upsets (SEUs) injection campaigns on Commercial-off-the-shelf (COTS) microprocessors. This method takes advantage of the debug facilities of modern microprocessors
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7e212ad511f092c0fc0b0de6d06f232d
http://hdl.handle.net/10045/66855
http://hdl.handle.net/10045/66855
Autor:
Sergio Cuenca-Asensi, Antonio Martínez-Álvarez, Alejandro Serrano-Cases, Felipe Restrepo-Calle, Jose Isaza-Gonzalez
Publikováno v:
I+D Tecnológico; Vol. 13, Núm. 1 (2017): Revista I+D Tecnológico; 8-17
Repositorio Institucional de documento digitales de acceso abierto de la UTP
Universidad Tecnológica de Panamá
instacron:U Tecnológica de Panamá
LATS
Repositorio Institucional de documento digitales de acceso abierto de la UTP
Universidad Tecnológica de Panamá
instacron:U Tecnológica de Panamá
LATS
This paper presents a fault injection tool and methodology for performing Single-Event-Upsets (SEUs) injection campaigns on Commercial-off-the-shelf (COTS) microprocessors. This method takes advantage of the debug facilities of modern microprocessors
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::09af521c7d1872daec2b596517e5431d
http://ridda2.utp.ac.pa/handle/123456789/1781
http://ridda2.utp.ac.pa/handle/123456789/1781