Zobrazeno 1 - 10
of 309
pro vyhledávání: '"Depth-Resolved Cathodoluminescence Spectroscopy"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Brillson, L.J., Mosbacker, H.L., Doutt, D.L., Dong, Y., Fang, Z.-Q., Look, D.C., Cantwell, G., Zhang, J., Song, J.J.
Publikováno v:
In Superlattices and Microstructures 2009 45(4):206-213
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hantian Gao1 gao.785@osu.edu, Asel, Thaddeus J.1, Cox, Jon W.2, Yuanyao Zhang3, Jian Luo3, Brillson, L. J.1,2
Publikováno v:
Journal of Applied Physics. 2016, Vol. 120 Issue 10, p105302-1-105302-7. 7p. 1 Black and White Photograph, 6 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Thin Solid Films. 660:516-520
The extent of subsurface damage on (0001) GaN wafers post different polishing treatments was quantified using depth-resolved cathodoluminescence spectroscopy (DRCLS). The band edge emission spectra were obtained from CLS with different electron energ
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2a176c24a4545a9efe7587951c4a478d
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2018.07.002
https://doi.org/10.1016/j.tsf.2018.07.002
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jan-Patrick Scholz, Ferdinand Scholz, Matthias Hocker, Johannes Biskupek, Ute Kaiser, Klaus Thonke, Oliver Rettig, Yueliang Li, Tomáš Hubáček
Publikováno v:
Nano Express. 2:014002
A stack of five Al(Ga)N-based quantum wells is investigated by combined laterally and depth resolved cathodoluminescence (CL) spectroscopy in order to distinguish lateral and vertical inhomogeneities of these wells. Transmission electron microscopy (
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ca4be5649214d35c0d25cff031130b46
https://doi.org/10.1088/2632-959x/abdad9
https://doi.org/10.1088/2632-959x/abdad9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.