Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Dennis, D.C."'
Autor:
Frei, M.R., Belk, N.R., Dennis, D.C., Carroll, M.S., Lin, W., Pinto, M.R., Archer, V.D., Ivanov, T.G., Moinian, S., Ng, K.K., Chu, J.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1999 Technical Digest (Cat No99CH36318); 1999, p757-760, 4p
Publikováno v:
1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (Cat No98EX100); 1998, p15-17, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
1999 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatability Symposium Record (Cat No99CH36261); 1999, Issue 2, p700-700, 1p
Autor:
Ham, T.E., Osenbach, J.W., Thoma, M.J., Vitkavage, S.C., Nagy, J.J., Morris, B.L., Dennis, D.C., Bechtold, P.F., Boulin, D.M., Kearney, J.W.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE Custom Integrated Circuits Conference - CICC '93; 1993, p1.4-14, 1p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.