Zobrazeno 1 - 10
of 58
pro vyhledávání: '"Dennetiere D."'
Publikováno v:
EPJ Web of Conferences, Vol 59, p 13005 (2013)
We present here the latest results obtained with our high resolution broadband X-ray microscope. These results, both spatial and spectral, were obtained in several facilities such as Berlin's synchrotron Bessy II and LULI's laser ELFIE 100TW. The res
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4a8ff763440d47c69b292317a7e00428
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Troussel, Ph. a, ⁎, Dennetiere, D. b, Maroni, R. a, Høghøj, P. c, Hedacq, S. c, Cibik, L. d, Krumrey, M. d
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 11 December 2014 767:1-4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Instrumentation; Aug2021, Vol. 15 Issue 8, p1-13, 13p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Burcklen, C, Soufli, R, Dennetiere, D, Polack, F, Capitanio, B, Gullikson, E, Meltchakov, E, Thomasset, M, Jérome, A, De Rossi, S, Delmotte, F
Publikováno v:
Burcklen, C; Soufli, R; Dennetiere, D; Polack, F; Capitanio, B; Gullikson, E; et al.(2016). Cr/B4C multilayer mirrors: Study of interfaces and X-ray reflectance. Journal of Applied Physics, 119(12). doi: 10.1063/1.4944723. Lawrence Berkeley National Laboratory: Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/3fd7k25z
© 2016 AIP Publishing LLC. We present an experimental study of the effect of layer interfaces on the x-ray reflectance in Cr/B4C multilayer interference coatings with layer thicknesses ranging from 0.7 nm to 5.4 nm. The multilayers were deposited by
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::9916c120e6e5c7321b29f0443c294431
http://www.escholarship.org/uc/item/3fd7k25z
http://www.escholarship.org/uc/item/3fd7k25z
