Effect of impurities on initial stages of phase formation for the system of Ti deposited on (001) Si–Ge layers

Autor: Beregovsky, M., Levin, I., Berner, A. ^*, Eizenberg, M., Demuth, V., Strunk, H.P.

Publikováno v: In Thin Solid Films 1999 338(1):110-117

Effect of growth conditions on the structural properties of ion beam sputter deposited SiGe epilayers.

Autor: Lyakas, M., Arazi, T., Eizenberg, M., Demuth, V., Strunk, H. P., Mosleh, N., Meyer, F., Schwebel, C.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 10/15/1995, Vol. 78 Issue 8, p4975, 7p, 3 Black and White Photographs, 2 Charts, 3 Graphs

Medien-Welten. Vernichtung oder Verdichtung der Sinne?

Autor: Wils, J.P., Wagner, R., Demuth, V.

Publikováno v: Wagner, R.; Demuth, V. (ed.), Vom Sinn multipler Welt. Medien und Kunst, 9-38. Würzburg : Königshausen & Neumann
STARTPAGE=9;ENDPAGE=38;TITLE=Wagner, R.; Demuth, V. (ed.), Vom Sinn multipler Welt. Medien und Kunst
Wagner, R.; Demuth, V. (ed.), Vom Sinn multipler Welt. Medien und Kunst, pp. 9-38

Item does not contain fulltext

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::418ad86700ccc17044a7b800441121e4
http://hdl.handle.net/2066/124733

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Amorphous and crystalline IrSi Schottky barriers on silicon.

Autor: Wörle, D., Grünleitner, H., Demuth, V., Kumpf, C., Strunk, H.P., Burkel, E., Schulz, M.

Publikováno v: Applied Physics A: Materials Science & Processing; 1998, Vol. 66 Issue 6, p629, 9p