Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"Dembele, Sounkalo"'
Autor:
Beb, Mayra Yucely, Tadjouddine, Yanis, Boucheny, Alexandre, Lehmann, Olivier, Rauch, Jean-Yves, Dembélé, Sounkalo, Piat, Nadine, Thibaud, Sébastien
Publikováno v:
In Precision Engineering June 2024 88:516-526
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Beb Caal, Mayra Yucely, Bekel, Akkiz, Dembele, Sounkalo, Rougeot, Patrick, Jouffroy-Bapicot, Isabelle, Lebas, Louis-Marie, Langlois, Cyril, Roiban, Lucian, Fellah, Clémentine, Piat, Nadine, Thibaud, Sébastien, Cuny, Gilles, Masenelli-Varlot, Karine
Publikováno v:
International Symposium on Optomechatronic Technology
International Symposium on Optomechatronic Technology, Nov 2021, Besançon, France
International Symposium on Optomechatronic Technology, Nov 2021, Besançon, France
International audience; A three-dimensional model of small size samples enables the development of accurate solutions for their conservation, education, and metrology. Due to its high magnification, the scanning electron microscope can deliver images
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::930c58524eb5dfc3799b6c1cab3a3059
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03456526
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03456526
Autor:
Bekel, Akkiz, Lebas, Louis-Marie, Roiban, Lucian, Langlois, Cyril, Beb Caal, Mayra Yucely, Dembele, Sounkalo, Piat, Nadine, Gaillard, Claire, Lesaint, Bérangère, Masenelli-Varlot, Karine
Publikováno v:
Microscopy and microanalysis
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy, Oct 2021, Paris, France. ⟨10.1017/S1431927621013040⟩
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy
International Conference on In-Situ an Correlative Electron Microscopy, Oct 2021, Paris, France. ⟨10.1017/S1431927621013040⟩
International audience; Cell adhesion is involved in many cellular processes such as proliferation, migration and differentiation. Cell adhesion conditions cell morphology, indeed recent studies have shown that the substrate on which cells are cultur
Autor:
Dembélé, Sounkalo, Rochdi, Karima
Publikováno v:
In Sensors & Actuators: A. Physical 2006 125(2):486-493
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dembele, Sounkalo, Piat, Nadine
Publikováno v:
Colloque National, Produits, Procédés, Systèmes Intelligents et Durables
Colloque National, Produits, Procédés, Systèmes Intelligents et Durables, Mar 2015, La Plagne, France
Colloque National, Produits, Procédés, Systèmes Intelligents et Durables, Mar 2015, La Plagne, France
International audience; Dans ce papier nous présentons une méthode d'estimation de la profondeur dans un microscope électronique à balayage (SEM). Elle est basée sur la mise au point automatique par asservissement visuel dont le grand avantage e
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::515a53add8bc5782817a0ffc478f4a5e
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02868238/file/141b21a1-3795-44d0-9ca5-03d9d6e711e7-author.pdf
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02868238/file/141b21a1-3795-44d0-9ca5-03d9d6e711e7-author.pdf
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.