Knihovna AV ČR, v. v. i.
  • Odhlásit
  • Přihlášení
  • Jazyk
    • English
    • Čeština
  • Instituce
    • Knihovna AV ČR
    • Souborný katalog AV ČR
    • Archeologický ústav Brno
    • Archeologický ústav Praha
    • Astronomický ústav
    • Biofyzikální ústav
    • Botanický ústav
    • Etnologický ústav
    • Filosofický ústav
    • Fyzikální ústav
    • Fyziologický ústav
    • Geofyzikální ústav
    • Geologický ústav
    • Historický ústav
    • Masarykův ústav
    • Matematický ústav
    • Orientální ústav
    • Psychologický ústav
    • Slovanský ústav
    • Sociologický ústav
    • Ústav analytické chemie
    • Ústav anorganické chemie
    • Ústav pro českou literaturu
    • Ústav dějin umění
    • Ústav fyziky atmosféry
    • Ústav fotoniky a elektroniky
    • Ústav fyzikální chemie J. H.
    • Ústav fyziky materiálů
    • Ústav geoniky
    • Ústav pro hydrodynamiku
    • Ústav chemických procesů
    • Ústav informatiky
    • Ústav pro jazyk český
    • Ústav jaderné fyziky
    • Ústav makromolekulární chemie
    • Ústav pro soudobé dějiny
    • Ústav přístrojové techniky
    • Ústav státu a práva
    • Ústav struktury a mechaniky hornin
    • Ústav teoretické a aplikované mechaniky
    • Ústav teorie informace a automatizace
    • Ústav výzkumu globální změny
Pokročilé vyhledávání
  • Domovská stránka
  • Vyhledávání: "Defranoux, Ch."
  • Navrhnout nákup titulu
Zobrazeno 1 - 3 of 3 pro vyhledávání: '"Defranoux, Ch."'
1
Akademický článek
Ellipsometry porosimetry (EP): Thin film porosimetry by coupling an adsorption setting with an optical measurement, highlights on diffusion results
Autor: Bourgeois, A., Turcant, Y., Walsh, Ch., Defranoux, Ch.
Publikováno v: In Applied Surface Science 2009 256(3) Supplement:S26-S29
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
UV–VIS and mid-IR ellipsometer characterization of layers used in OLED devices
Autor: Hartmann, E. *, Boher, P., Defranoux, Ch., Jolivet, L., Martin, M.-O.
Publikováno v: In Journal of Luminescence 2004 110(4):407-412
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

  • RSS
  • Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje
Pouze tištěné dokumenty
Zahrnout EIZ
  • 8 Akademické články
  • 1 Konferenční materiály
  • 4 diffusion
  • 3 adsorption
  • 3 barrier layer
  • 3 porosity
  • 3 porous
  • 2 electrical properties
  • 2 ellipsometry
  • 2 layer thickness
  • 2 oled
  • 2 spectroscopic ellipsometry
  • 2 thin films
  • 1 ambient temperature ferrite process
  • 1 gas phase adsorption
  • 1 light emitting diodes
  • 1 low-k films
  • 1 optical indices
  • 1 optical measurements
  • 1 optical polarization
  • 4 elsevier b.v.
  • 2 elsevier
  • 1 elsevier science bv
  • 1 springer
  • 4 applied surface science
  • 3 journal of luminescence
  • 1 adsorption-journal of the international adsorption society
  • 2 Science Citation Index Expanded
  • 2 ScienceDirect
  • 2 Scopus®
  • 2 Academic Search Ultimate

Možnosti vyhledávání

  • Tematická mapa
  • Historie vyhledávání
  • Pokročilé vyhledávání

Objevte více

  • Abecední procházení

Hledáte pomoc?

  • Tipy pro vyhledávání
načítá se......