Zobrazeno 1 - 10
of 333
pro vyhledávání: '"Defaÿ, E."'
Autor:
Jiang, Zhijun, Prokhorenko, Sergei, Prosandeev, Sergey, Nahas, Y., Wang, D., Íñiguez, J., Defay, E., Bellaiche, L.
Publikováno v:
Phys. Rev. B 96, 014114 (2017)
Atomistic effective Hamiltonian simulations are used to investigate electrocaloric (EC) effects in the lead-free Ba(Zr$_{0.5}$Ti$_{0.5}$)O$_{3}$ (BZT) relaxor ferroelectric. We find that the EC coefficient varies non-monotonically with the field at a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1706.08963
Autor:
Torelló, À., Defay, E.
Publikováno v:
In International Journal of Refrigeration July 2021 127:174-179
Publikováno v:
Physical Review B (PRB), 2014, 90, pp.140101
We observed that electric field induces phase transition from tetragonal to rhombohedral in polycrystalline morphotropic lead zirconate titanate (PZT) films, as reported in 2011 for bulk PZT. Moreover, we evidenced that this field-induced phase trans
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1501.06378
Autor:
Moya, X., Hueso, L. E., Maccherozzi, F., Tovstolytkin, A. I., Podyalovskii, D. I., Ducati, C., Phillips, L. C., Ghidini, M., Hovorka, O., Berger, A., Vickers, M. E., Defaÿ, E., Dhesi, S. S., Mathur, N. D.
Large thermal changes driven by a magnetic field have been proposed for environmentally friendly energy efficient refrigeration, but only a few materials which suffer hysteresis show these giant magnetocaloric effects. Here we create giant and revers
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1209.6516
Publikováno v:
Smart Materials and Structures, 20, (2011) 105013
Integration of structures and functions allowed reducing electric consumptions of sensors, actuators and electronic devices. Therefore, it is now possible to imagine low-consumption devices able to harvest their energy in their surrounding environmen
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1111.2524
It was experimentally found that the evolution of dielectric loss with processing temperature displays a common trend in ferroelectric and dielectric thin oxide films: firstly an increase and then a decrease in dielectric loss when the processing tem
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0809.2008
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 May 2014 120:121-126
Autor:
Cazorla, P.-H., Fuchs, O., Cochet, M., Maubert, S., Le Rhun, G., Robert, P., Fouillet, Y., Defay, E.
Publikováno v:
In Procedia Engineering 2014 87:488-491
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.