Zobrazeno 1 - 10
of 93
pro vyhledávání: '"Debord, R."'
Autor:
Han, D., Moalla, R., Fina, I., Giordano, V. M., d'Esperonnat, M., Botella, C., Grenet, G., Debord, R., Pailhes, S., Saint-Girons, G., Bachelet, R.
Publikováno v:
ACS Applied Electronic Materials 3 (2021) 3461-3471
The impact of epitaxial strain on the structural, electronic, and thermoelectric properties of p-type transparent Sr-doped LaCrO3 thin films has been investigated. For this purpose, high-quality fully strained La0.75Sr0.25CrO3 (LSCO) epitaxial thin f
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2108.10788
Autor:
Salami, S., Debord, R., Giordano, V.M., Fulcrand, R., Mahonisi, N., Mthwesi, Z., Blanchard, N., Every, A., Vignoli, S., Adessi, C., Naidoo, S.R., Pailhès, S.
Publikováno v:
In Solid State Sciences May 2024 151
Autor:
Gerin, M., Machon, D., Radescu, S., Le Floch, S., Le Godec, Y., Gaudisson, T., Alabarse, F., Veber, P., Debord, R., Amans, D., Pischedda, V.
Publikováno v:
In Journal of Alloys and Compounds 5 September 2023 954
Autor:
Hadi, M., Pailhès, S., Debord, R., Benamrouche, A., Drouard, E., Gehin, T., Botella, C., Leclercq, J.-L., Noe, P., Fillot, F., Giordano, V.M.
Publikováno v:
In Materialia December 2022 26
Autor:
Apreutesei, M., Debord, R., Bouras, M., Regreny, P., Botella, C., Benamrouche, A., Carretero-Genevrier, A., Gazquez, J., Grenet, G., Pailhes, S., Saint-Girons, G., Bachelet, R.
High-quality thermoelectric LaxSr1-xTiO3 (LSTO) layers (here with x = 0.2), with thicknesses ranging from 20 nm to 700 nm, have been epitaxially grown on SrTiO3(001) substrates by enhanced solid-source oxide molecular-beam epitaxy. All films are atom
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1703.09451
Autor:
Bouzerar, G., Thébaud, S., Adessi, Ch., Debord, R., Apreutesei, M., Bachelet, R., Pailhès, S.
Thermoelectric materials are opening a promising pathway to address energy conversion issues governed by a competition between thermal and electronic transport. Improving the efficiency is a difficult task, a challenge that requires new strategies to
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1702.02751
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Thermal transport properties in amorphous/nanocrystalline metallic composites: A microscopic insight
Autor:
Tlili, A., Pailhès, S., Debord, R., Ruta, B., Gravier, S., Blandin, J.-J., Blanchard, N., Gomès, S., Assy, A., Tanguy, A., Giordano, V.M.
Publikováno v:
In Acta Materialia 1 September 2017 136:425-435
Autor:
Hadi, M, Pailhès, S, Debord, R, Benamrouche, A, Drouard, Emmanuel, Gehin, Thomas, Botella, Claude, Leclercq, Jean -Louis, Noe, P, Fillot, F, Giordano, V
Publikováno v:
Materialia
Materialia, 2022, 26, pp.101574. ⟨10.1016/j.mtla.2022.101574⟩
Materialia, 2022, 26, pp.101574. ⟨10.1016/j.mtla.2022.101574⟩
International audience; PECVD amorphous silicon nitride (a-SiN x) films are largely used into the dielectric stacks of integrated circuits, as passivation or capping layers, and are today an important alternative to silicon for integrated nonlinear o
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3515::559e8b28f2d54a8915ee638d52c13ba4
https://hal.science/hal-03854197
https://hal.science/hal-03854197
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.