Zobrazeno 1 - 10
of 50
pro vyhledávání: '"Debacker, Peter"'
Publikováno v:
2023 IEEE International Symposium on Workload Characterization (IISWC)
GPGPU execution analysis has always been tied to closed-source, proprietary benchmarking tools that provide high-level, non-exhaustive, and/or statistical information, preventing a thorough understanding of bottlenecks and optimization possibilities.
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2407.11999
Autor:
Verhoef, Bram-Ernst, Laubeuf, Nathan, Cosemans, Stefan, Debacker, Peter, Papistas, Ioannis, Mallik, Arindam, Verkest, Diederik
Deep neural networks (DNNs) can be made hardware-efficient by reducing the numerical precision of the weights and activations of the network and by improving the network's resilience to noise. However, this gain in efficiency often comes at the cost
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1912.09356
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Houshmand, Pouya, Sarda, Giuseppe M., Jain, Vikram, Ueyoshi, Kodai, Papistas, Ioannis A., Shi, Man, Zheng, Qilin, Bhattacharjee, Debjyoti, Mallik, Arindam, Debacker, Peter, Verkest, Diederik, Verhelst, Marian
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; January 2023, Vol. 58 Issue: 1 p203-215, 13p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.