Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Dean J. Dreier"'
Autor:
Norm Herr, Paul Tuohy, Pat Liston, John Sweeney, Phil Schani, Mark Franklin, Michael Phillips, Dean J. Dreier, Horacio Mendez, Brian Aubin
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
A new multilevel metal failure mechanism is presented in the context of improved manufacturing and reliability. Device failures, with electrical overstress (EOS) characteristics, are shown to be caused by metal-to-metal shorts. These shorts occur whe
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bb393f2f3aa4e95b864efd8295a0aba3
https://doi.org/10.1117/12.139340
https://doi.org/10.1117/12.139340
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Continual improvements in yield, reliability and manufacturability measure a fab and ultimately result in Total Customer Satisfaction. A new organizational and technical methodology for continuous defect reduction has been established in a formal fee
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f4c3c67369f6459334fdb69a5eacb24e
https://doi.org/10.1117/12.139359
https://doi.org/10.1117/12.139359
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.