Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"De Pestel, F."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2007 47(9):1462-1467
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Roig, J., Mouhoubi, S., De Pestel, F., Martens, N., Bauwens, F., Massie, H., Golonka, L., Loechelt, G.
Publikováno v:
2012 24th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs; 1/ 1/2012, p291-294, 4p
Publikováno v:
2006 European Solid-State Device Research Conference; 2006, p278-281, 4p
Autor:
Moens, P., Van den bosch, G., Wojciechowski, D., Bauwens, F., De Vleeschouwer, H., De Pestel, F.
Publikováno v:
Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005 (ESSDERC 2005); 2005, p407-410, 4p
Autor:
Moens, P., Coppens, P., Baele, J., Battwens, F., Boonen, S., De Vleeschouwer, H., De Pestel, F., Tack, M.
Publikováno v:
2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings 43rd Annual; 2005, p573-577, 5p
Autor:
Moens, P., D'Haeze, L., Appeltans, K., Van Den Bossche, L., De Cock, B., Plojhar, J., Gassot, P., Bolognesi, D., De Pestel, F., Casier, H., Tack, M.
Publikováno v:
Proceedings ISPSD '04. the 16th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, 2004; 2004, p85-88, 4p
Autor:
De Pestel, F., Moens, P., Hakim, H., De Vleeschouwer, H., Reynders, K., Colpaert, T., Colson, P., Coppens, P., Boonen, S., Bolognesi, D., Tack, M.
Publikováno v:
ISPSD '03. 2003 IEEE 15th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, 2003; 2003, p182-185, 4p
Autor:
Elattari, B., Van den Bosch, G., Schoenmaker, W., Groeseneken, G., Coppens, P., Moens, P., De Pestel, F.
Publikováno v:
ESSDERC '03. 33rd Conference on European Solid-State Device Research, 2003; 2003, p513-516, 4p