Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"De Backer, Eddy"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1525-1529
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(1):53-57
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Loechelt, Gary, Grivna, Gordy, Golonka, Laurence, Hoggatt, Charles, Massie, Hal, De Pestel, Freddy, Martens, Nick, Mouhoubi, Samir, Roig, Jaume, Colpaert, Tony, Coppens, Peter, Bauwens, Filip, De Backer, Eddy
Publikováno v:
2012 24th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs; 1/ 1/2012, p85-88, 4p
Autor:
Liu, Charlie, Salih, Ali, Padmanabhan, Balaji, Jeon, Woochul, Moens, Peter, Tack, Marnix, De Backer, Eddy
Publikováno v:
IEEE Power Electronics Magazine; September 2015, Vol. 2 Issue: 3 p44-50, 7p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1999, Issue 1, p290-297, 8p
Autor:
Sheng, Lie Yi, De Greve, Johan, De Backer, Eddy, Verpoort, Philippe, Ackaert, Jan, Bauwens, Filip
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; November 2007, Vol. 134 Issue: 1 p91-94, 4p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Goessens, Claus, Martens, Nick, Baele, Joris, De Backer, Eddy, De Pestel, Freddy, Engle, Mike
Publikováno v:
ECS Transactions; September 2007, Vol. 11 Issue: 2