Zobrazeno 1 - 10
of 281
pro vyhledávání: '"Davidović, V"'
Autor:
Mitrović, N., Veljković, S., Davidović, V., Djorić-Veljković, S., Golubović, S., Živanović, E., Prijić, Z., Danković, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Autor:
Danković, D., Davidović, V., Golubović, S., Veljković, S., Mitrović, N., Djorić-Veljković, S.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Stojadinović, N., Djorić-Veljković, S., Davidović, V., Golubović, S., Stanković, S., Prijić, A., Prijić, Z., Manić, I., Danković, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:135-141
Autor:
Danković, D., Manić, I., Prijić, A., Davidović, V., Prijić, Z., Golubović, S., Djorić-Veljković, S., Paskaleva, A., Spassov, D., Stojadinović, N.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability March 2018 82:28-36
Autor:
Manić, I., Danković, D., Prijić, A., Davidović, V., Djorić-Veljković, S., Golubović, S., Prijić, Z., Stojadinović, N.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-November 2011 51(9-11):1540-1543
Autor:
Stojadinović, N., Danković, D., Manić, I., Prijić, A., Davidović, V., Djorić-Veljković, S., Golubović, S., Prijić, Z.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2010 50(9):1278-1282
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Manić, I., Danković, D., Djorić-Veljković, S., Davidović, V., Golubović, S., Stojadinović, N.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2009 49(9):1003-1007
Autor:
Danković, D., Manić, I., Davidović, V., Djorić-Veljković, S., Golubović, S., Stojadinović, N.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2008 48(8):1313-1317