Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"David S Yaney"'
Autor:
David S. Yaney, James L. Jorgensen
Publikováno v:
AT&T Technical Journal. 70:31-36
Many nuclear power, defense, and space applications require radiation-hardened integrated circuits. In 1986, Sandia's expertise in microelectronics radiation hardening was combined with ATT the new process is running at AT&T's Allentown, Pennsylvania
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::abc914f95c08522e245c67ce3f4d8298
https://doi.org/10.1002/j.1538-7305.1991.tb00135.x
https://doi.org/10.1002/j.1538-7305.1991.tb00135.x
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.