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Autor:
Daumann, Walter
Die vorliegende Arbeit behandelt schwerpunktmäßig die Technologie und Charakterisierung von Single- und Dual-Gate- InAlAs/InGaAs/InP Heterostruktur-Feldeffekt-Transistoren für Gate-Längen im unteren Submikron Bereich (90 nm < LG < 400 nm). Auf de
Autor:
Berntgen, Jürgen *, Behres, Alexander, Kluth, Jürgen, Heime, Klaus, Daumann, Walter, Auer, Uwe, Tegude, Franz-Josef
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2000 40(11):1911-1914
Autor:
Brennemann, Andreas, Bushehri, E., Daumann, Walter, Agethen, Michael, Bertenburg, Ralf M., Brockerhoff, Wolfgang, Staroselsky, Victor I., Bratov, V., Schlichter, T., Tegude, Franz-Josef
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=unidue___bib::9b17d8c5ab059475bbdaeb03df765ce0
https://www.scopus.com/inward/record.url?partnerID=HzOxMe3b&origin=inward&scp=0032264311
https://www.scopus.com/inward/record.url?partnerID=HzOxMe3b&origin=inward&scp=0032264311
Autor:
Berntgen, Jürgen, Lim, Teck Leong, Daumann, Walter, Auer, Uwe, Tegude, Franz-Josef, Matulionis, Arvydas, Heime, Klaus
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; Apr1999, Vol. 466 Issue 1, p59-70, 12p
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1997, Issue 1, p155-162, 8p