Zobrazeno 1 - 10
of 123
pro vyhledávání: '"Dauksher, W.J."'
Autor:
Dauksher, W.J., Le, N.V., Ainley, E.S., Nordquist, K.J., Gehoski, K.A., Young, S.R., Baker, J.H., Convey, D., Mangat, P.S.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(4):929-932
Autor:
Resnick, D.J. ∗, Mancini, D., Dauksher, W.J., Nordquist, K., Bailey, T.C., Johnson, S., Sreenivasan, S.V., Ekerdt, J.G., Willson, C.G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 69(2):412-419
Autor:
Johnson, S., Resnick, D.J. ∗, Mancini, D., Nordquist, K., Dauksher, W.J., Gehoski, K., Baker, J.H., Dues, L., Hooper, A., Bailey, T.C., Sreenivasan, S.V., Ekerdt, J.G., Willson, C.G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2003 67:221-228
Autor:
Dauksher, W.J. ∗, Clemens, S.B., Resnick, D.J., Smith, K.H., Mangat, P.J.S., Rauf, S., Stout, P., Ventzek, P.L.G., Ashraf, H., Lea, L., Hall, S., Hopkins, J., Chambers, A.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:887-894
Autor:
Bailey, T.C., Resnick, D.J. ∗, Mancini, D., Nordquist, K.J., Dauksher, W.J., Ainley, E., Talin, A., Gehoski, K., Baker, J.H., Choi, B.J., Johnson, S., Colburn, M., Meissl, M., Sreenivasan, S.V., Ekerdt, J.G., Willson, C.G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 61:461-467
Autor:
Dauksher, W.J. ∗, Clemens, S.B., Resnick, D.J., Smith, K.H., Mangat, P.J.S., Rauf, S., Ventzek, P.L.G., Arunachalam, V., Ramamurthi, B.N., Ashraf, H., Lea, L., Hall, S., Johnston, I.R., Hopkins, J., Bhardwaj, J.K.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2001 57:607-612
Autor:
Nordquist, K. ∗, Resnick, D.J., Ivin, V., Mangat, P., Lu, B., Masnyj, Z., Ainley, E., Dauksher, W.J., Mancini, D., Silakov, M., Minyushkin, D., Vorotnikova, N.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2001 57:505-510
Autor:
Dauksher, W.J.
Publikováno v:
In Encyclopedia of Materials: Science and Technology 2011:5206-5211
Publikováno v:
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; 2006, p243-249, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.