Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Dasnurkar, Sachin"'
Autor:
Dasnurkar, Sachin
Analog and mixed signal device testing is resource intensive due to the spectral and temporal speci cations of the input/output interface signals. These devices and circuits are commonly validated by parametric speci fication tests to ensure complian
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/2152/19831
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Dasnurkar, Sachin, Datta, Animesh, Abu-Rahma, Mohamed, Nguyen, Hieu, Villafana, Martin, Rasouli, Hadi, Tamjidi, Sean, Cai, Ming, Sengupta, Samit, Chidambaram, P R, Thirumala, Raghavan, Kulkarni, Nikhil, Seeram, Prasanna, Bhadri, Prasad, Patel, Prayag, Yoon, Sei Seung, Terzioglu, Esin
Publikováno v:
2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS); 2013, p1-6, 6p
Autor:
Datta, Animesh, Abu-Rahma, Mohamed, Dasnurkar, Sachin, Rasouli, Hadi, Tamjidi, Sean, Cai, Ming, Sengupta, Samit, Chidambaram, PR, Thirumala, Raghavan, Kulkarni, Nikhil, Seeram, Prasanna, Bhadri, Prasad, Patel, Prayag, Yoon, Sei Seung, Terzioglu, Esin
Publikováno v:
International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED); 2013, p580-584, 5p
Publikováno v:
2012 IEEE 18th International Mixed-Signal, Sensors & Systems Test Workshop; 1/ 1/2012, p73-78, 6p
Publikováno v:
Mixed-Signals, Sensors & Systems Test Workshop (IMS3TW), 2011 IEEE 17th International; 2011, p67-71, 5p