Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Danilovskiĭ, É. Yu."'
Autor:
Danilovskii, E. Yu., Bagraev, N. T.
This paper presents a method for determining the conductance matrix of multi terminal semiconductor structures with edge channels. This method appears to be applied within frameworks of the ordinary Landauer - uttiker formalism for the carrier transp
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1404.6051
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mezdrogina, M. M., Krivolapchuk, V. V., Feoktistov, N. A., Danilovskiĭ, É. Yu., Kuzmin, R. V., Razumov, S. V., Kukushkin, S. A., Osipov, A. V.
Publikováno v:
Semiconductors; Jul2008, Vol. 42 Issue 7, p766-771, 6p, 7 Graphs
