Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"Daniele Cantarelli"'
Autor:
A. Cabrini, Marco Pasotti, Daniele Cantarelli, R. Casiraghi, Alfonso Maurelli, Paolo Cappelletti, Pier Luigi Rolandi, Guido Torelli
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 19:57-66
Reliability and yield of CMOS integrated circuits are becoming more and more dependent on interconnect elements (contacts, vias, and metal lines). These are therefore considered to represent one of the main limits to the future scaling down of integr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8d3b82460c0ad50107bfe977c7a980a6
https://doi.org/10.1109/tsm.2005.863226
https://doi.org/10.1109/tsm.2005.863226
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.