Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Dan Knebel"'
Publikováno v:
EDFA Technical Articles. 4:12-16
Picosecond imaging circuit analysis (PICA) is an advanced diagnostic technique that measures device switching activity on CMOS ICs through the backside of the die. Due to its relatively large field of view, it can quickly locate defects among large n
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::103f9498e3b9551679a593f8a939fa55
https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2002-1.p012
https://doi.org/10.31399/asm.edfa.2002-1.p012
Autor:
Dennis G. Manzer, Dan Knebel, Steven E. Steen, Yuen Chan, Steve Wilson, Tony Pelella, B. Huott, Pia Naoko Sanda, Stas Polonsky, Moyra K. McManus
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Picosecond Imaging Circuit Analysis (PICA) is a new technique shown here to be applicable to the analysis of complex VLSI circuits. PICA was used to diagnose a timing failure in the early design of the G6 microprocessor chip. The fault occurred at hi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2f5a07c29e3b37a61b2203c76a603fd7
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa1999p0035
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa1999p0035
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 1999 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5a6a92e3e4628b152073bb08c905a1ed
https://doi.org/10.7567/ssdm.1999.a-8-2
https://doi.org/10.7567/ssdm.1999.a-8-2
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.