Zobrazeno 1 - 10
of 145
pro vyhledávání: '"Dai, Gaoliang"'
Autor:
Deng, Xiao, Lin, Zichao, Dai, Gaoliang, Tang, Zhaohui, Xie, Zhangning, Xiao, Guangxu, Yin, Zhijun, Lei, Lihua, Jin, Tao, Xue, Dongbai, Gu, Zhenjie, Cheng, Xinbin, Li, Tongbao
Precise positioning measurement plays an important role in in today advanced manufacturing industry, and length traceability chain has been optimizing and enriching to fulfill the developing and various precise positioning requirement. In this paper,
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2302.14633
Publikováno v:
In Journal of Materials Processing Tech. June 2024 327
Autor:
Hu, Xiukun, Dai, Gaoliang, Sievers, Sibylle, Scarioni, Alexander Fernández, Neu, Volker, Bieler, Mark, Schumacher, Hans Werner
Magnetic force microscopy (MFM) measurements generally provide phase images which represent the signature of domain structures on the surface of nanomaterials. To quantitatively determine magnetic stray fields based on an MFM image requires calibrate
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1912.08437
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Deng, Xiao, Dai, Gaoliang, Liu, Jie, Hu, Xiukun, Bergmann, Detlef, Zhao, Jun, Tai, Renzhong, Cai, Xiaoyu, Li, Yuan, Li, Tongbao, Cheng, Xinbin
Publikováno v:
In Ultramicroscopy July 2021 226
Autor:
Hu, Xiukun, Dai, Gaoliang, Sievers, Sibylle, Fernández-Scarioni, Alexander, Corte-León, Héctor, Puttock, Robert, Barton, Craig, Kazakova, Olga, Ulvr, Michal, Klapetek, Petr, Havlíček, Marek, Nečas, David, Tang, Yuanjun, Neu, Volker, Schumacher, Hans Werner
Publikováno v:
In Journal of Magnetism and Magnetic Materials 1 October 2020 511
Correction of Interferometric High-Order Nonlinearity Error in Metrological Atomic Force Microscopy.
Autor:
Dai, Gaoliang1 (AUTHOR) gaoliang.dai@ptb.de, Hu, Xiukun2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Nanomanufacturing & Metrology. Dec2022, Vol. 5 Issue 4, p412-422. 11p.