On-Wafer Characterisation of Text-Fixtures in the Presence of Cross-Talk

Autor: Dahlberg, Krista, Silvonen, Kimmo, Kiuru, Tero

Publikováno v: Dahlberg, K, Silvonen, K & Kiuru, T 2012, ' On-Wafer Characterisation of Text-Fixtures in the Presence of Cross-Talk ', Paper presented at ESA Microwave technologies and techniques workshop, Noordwijk, Netherlands, 10/05/12-12/05/12 .

In high frequency on-wafer S-parameter measurements a calibration method that models the cross-talk between measurement ports is preferable. This is not possible, when conventional 8- or 12-term error model calibration methods, like LRL, LRM, SOLT, e

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=355e65625b88::3e896e4bd0c293a28b46b2215b198449
https://cris.vtt.fi/en/publications/21c1decf-89cc-46a8-8f1a-87be598ac46c

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Generic jig for testing mixing performance of millimeter wave schottky diodes.

Autor: Dahlberg, Krista, Kiuru, Tero, Mallat, Juha, Raisanen, Antti V., Narhi, Tapani

Publikováno v: Microwave Conference (EuMC), 2011 41st European; 2011, p922-925, 4p