Zobrazeno 1 - 10
of 195
pro vyhledávání: '"D.W. Price"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Security & Privacy Magazine. 2:32-37
In a quest for election legitimacy, officials are increasingly deploying direct recording electronic (DRE) voting systems. A project to assess their trustworthiness revealed both the ease of introducing bugs into such systems and the difficulty of de
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::161c3f1f35f4474d2d710b4586235fd2
https://doi.org/10.1109/msecp.2004.1264851
https://doi.org/10.1109/msecp.2004.1264851
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2004 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference and Workshop (IEEE Cat. No.04CH37530).
This paper discusses about the effectiveness of advanced e-beam inspection. Using an e-beam inspection system, the eS20XP (SN 158) from KLA-Tencor Corporation, DRAM development and ramp-up was accelerated. This was accomplished by analyzing the yield
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1daf2b3d32a80824d7765c63674c3cad
https://doi.org/10.1109/asmc.2004.1309571
https://doi.org/10.1109/asmc.2004.1309571