Zobrazeno 1 - 10
of 153
pro vyhledávání: '"D.T. Dunn"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
D.T. Dunn
Publikováno v:
IEEE Aerospace and Electronic Systems Magazine. 18:19-21
The ATE industry can benefit greatly by becoming better informed about the availability, functionality, and reliability of emulated peripheral solutions. Emulated peripherals provide the ability to dramatically extend the life of aging ATE equipment,
Publikováno v:
Proceedings, IEEE AUTOTESTCON.
The old super-minicomputer systems that are tucked away inside many of the world's Automatic Test Equipment (ATE) workstations are often 10 to 30 years old. These sturdy and reliable legacy computers - built in an era when the cost of a system regula
Publikováno v:
Revue Française des Laboratoires. 2004:18-19
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.