Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"D.P. Walkman"'
Autor:
J.W. Stasiak, J. Sokolowski, M. Natan, S. P. Klepner, R.W. Guernsey, C.J. Anderson, S. Puroshothaman, Run-Han Wang, C.T. Wu, D. J. Herrell, H. C. Jones, J. H. Greiner, J. Matisoo, P. Geldermans, Paul A. Moskowitz, D.P. Walkman, T.R. Gheewala, K. R. Grebe, M. Klein, B. J. C. van der Hoeven, S. Bermon, A. J. Warnecke, T. Yogi, Harry R. Bickford, P. C. Arnett, Mark B. Ketchen, A.A. Bright
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 2:262-265
This letter describes the first system level test vehicle in Josephson technology. The experiment consists of four circuit chips assembled on two cards in a high density, 3-dimensional, card-on-board package. A data path, which is representative of a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::1357bd409d138f590966180a5f77b52f
https://doi.org/10.1109/edl.1981.25426
https://doi.org/10.1109/edl.1981.25426
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.