Zobrazeno 1 - 10
of 317
pro vyhledávání: '"D.M. Zimmerman"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Varela-Rodríguez, Luis1 (AUTHOR) lvrodriguez@uach.mx, Calzada, Fernando2 (AUTHOR) fercalber10@gmail.com, Velázquez-Domínguez, José Antonio3 (AUTHOR) jauam14@yahoo.com.mx, Hernández-Ramírez, Verónica Ivonne3 (AUTHOR) vhernandezr@cinvestav.mx, Varela-Rodríguez, Hugo1,4 (AUTHOR) hvrodriguez@uach.mx, Bautista, Elihú5 (AUTHOR) hormigaqfb@hotmail.com, Herrera-Martínez, Mayra6 (AUTHOR) chimay_2002@hotmail.com, Pichardo-Hernández, Diana Laura3 (AUTHOR) laurita_nesc@hotmail.com, Castellanos-Mijangos, Rodrigo Daniel7 (AUTHOR) rodan_casmij@hotmail.com, Chávez-Munguía, Bibiana3 (AUTHOR) bchavez@cinvestav.mx, Talamás-Rohana, Patricia3 (AUTHOR) ptr@cinvestav.mx
Publikováno v:
International Journal of Molecular Sciences. Oct2024, Vol. 25 Issue 19, p10633. 26p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
K.P. Ray, D.M. Zimmerman
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 41:2605-2612
This paper considers total dose measurements of six 4007 type devices in the Microelectronics Package (MEP) on board the Combined Release and Radiation Effects Satellite (CRRES). The on-orbit device performance of the 4007 devices is compared to /sup
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bceda7447028a2202fa7ed2ee1ef8194
https://doi.org/10.1109/23.340621
https://doi.org/10.1109/23.340621
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 39:1851-1858
The authors present results of microelectronic device degradation due to total dose as measured on the Combined Release and Radiation Effects Satellite (CRRES). The on-orbit device performance is compared to MIL-STD-883 Method 1019.2 /sup 60/Co groun
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::19211484bab58fe1bae0bb2a606c0eb1
https://doi.org/10.1109/23.211377
https://doi.org/10.1109/23.211377