Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"D.E. Fisch"'
Autor:
T. R. Oldham, D.E. Fisch, J.M. McGarrity, M. Brassington, J. M. Benedetto, C.W. Tipton, W.M. De Lancey
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 38:1410-1414
Ferroelectric (FE) on complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) 4-bit nonvolatile memories, 8-bit octal latches (with and without FE), and process control test chips were used to establish a baseline characterization of the radiation response of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::348c85416327107078066b705b3e2ea8
https://doi.org/10.1109/23.124125
https://doi.org/10.1109/23.124125
Publikováno v:
28th International Reliability Physics Symposium.
The effects of temperature, electric field, and the number of polarization reversals on ferroelectric memory aging are analyzed on ferroelectric capacitors and memory products. The signal loss proceeds linearly with the log of time. A relationship be
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e29419db65701c85308f9159ec06b26d
https://doi.org/10.1109/irps.1990.363527
https://doi.org/10.1109/irps.1990.363527
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.