Zobrazeno 1 - 10
of 66
pro vyhledávání: '"D.-H. Ju"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Prenatal Diagnosis. 30:734-738
Objective We investigated the usefulness of shortening of the fetal femur length (FL) to predict Down syndrome at different gestational ages in Korean subjects. Methods This study involved 110 Korean Down syndrome fetuses and 602 randomly selected eu
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::995262dadac31d60f036be634a5aa16c
https://doi.org/10.1002/pd.2498
https://doi.org/10.1002/pd.2498
Autor:
Jin-Hong Park, Jaejoon Lee, D. H. Ju, Yong Soo Kim, Dong-Hyuk Choi, H.J. Park, H.S. Jang, J.I. Choi, Jeong Hoon Lee, Daeil Kim
Publikováno v:
Applied Surface Science. 254:1524-1527
Transparent and conducting ITO/Au/ITO multilayered films were deposited without intentional substrate heating on polycarbonate (PC) substrate using a magnetron sputtering process. The thickness of ITO, Au and ITO metal films in the multilayered struc
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ce8e53bc0b14a2a3108f1febcc9bb04d
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.07.080
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2007.07.080
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Prenatal diagnosis. 30(8)
We investigated the usefulness of shortening of the fetal femur length (FL) to predict Down syndrome at different gestational ages in Korean subjects.This study involved 110 Korean Down syndrome fetuses and 602 randomly selected euploid controls. The
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::8405e416498c97d924d23a69e2c656fc
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/20661886
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/20661886
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.97TH8319).
This paper investigate the impact of CMOS (complementary metal-oxide-semiconductor) gate microstructure on the reliability and performance of deep-submicrometer CMOS transistors. The amorphous silicon (/spl alpha/-Si) gate provides better capability
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a5be0bc847911e35cdeb173d09f85497
https://doi.org/10.1109/irws.1997.660278
https://doi.org/10.1109/irws.1997.660278
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 14:289-291
Electrical and reliability characteristics of diagonally shaped n-channel MOSFETs have been extensively investigated. Compared with the conventional device structure, diagonal MOSFETs show longer device lifetime under peak I/sub sub/ condition (V/sub
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c3615e9286460326aa6e9df6d339dc14
https://doi.org/10.1109/55.215201
https://doi.org/10.1109/55.215201
Publikováno v:
International Journal of Gynecology & Obstetrics. 119:S602-S602
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8b4839c18f80aad8165c1278e6974417
https://doi.org/10.1016/s0020-7292(12)61410-6
https://doi.org/10.1016/s0020-7292(12)61410-6
Publikováno v:
Extended Abstracts of the 1993 International Conference on Solid State Devices and Materials.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::51fcd33aa011fb4bd4a08dcc5777a3f2
https://doi.org/10.7567/ssdm.1993.a-2-6
https://doi.org/10.7567/ssdm.1993.a-2-6