Zobrazeno 1 - 10
of 252
pro vyhledávání: '"D. van den Heuvel"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Philippe Leray, Valentina Spampinato, R. Koret, Alain Moussa, Ilse Hoflijk, J. Hung, Y. Muraki, Thomas Nuytten, Janusz Bogdanowicz, Johan Meersschaut, Alexis Franquet, Stefanie Sergeant, Yusuke Oniki, N. Claessens, Thierry Conard, Karine Kenis, Anne-Laure Charley, D. Van den Heuvel
Publikováno v:
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV.
Nanosheet Field-Effect Transistors (FETs) are candidates to replace today’s finFETs as they offer both an enhanced electrostatic control and a reduced footprint. The processing of these devices involves the selective lateral etching, also called ca
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::ac9351cae9d7e2b039311645714042ac
https://doi.org/10.1117/12.2581800
https://doi.org/10.1117/12.2581800
Autor:
Francina J Smits, AC Henry, CH van Eijck, MG Besselink, OR Busch, M Arntz, TL Bollen, OM van Delden, D van den Heuvel, C van der Leij, KP van Lienden, A Moelker, BA Bonsing, IHM Borel Rinkes, K Bosscha, RM van Dam, S Festen, B Groot Koerkamp, E van der Harst, I de Hingh, G Kazemier, M Liem, BM van der Kolk, VE de Meijer, GA Patijn, D Roos, JM Schreinemakers, F Wit, CH van Werkhoven, IQ Molenaar, HC van Santvoort
Background Pancreatic resection is a major abdominal operation with 50% risk of postoperative complications. A common complication is pancreatic fistula, which may have severe clinical consequences such as postoperative bleeding, organ-failure and de
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::8ad35696de70d5fc63c9fd1b39f577dd
https://doi.org/10.21203/rs.2.19292/v2
https://doi.org/10.21203/rs.2.19292/v2
Autor:
C. Del Giudice, D. Van Den Heuvel, J. Wille, T. Mirault, E. Messas, R. Ferraresi, S. Kum, M. Sapoval
Publikováno v:
CardioVascular and Interventional Radiology. 41:1474-1480
To report our initial experience of fully percutaneous deep venous arterialization (pDVA) for the treatment of chronic critical limb ischemia (cCLI) after failed distal angioplasty.pDVA was performed in five consecutive patients by creating an arteri
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b1dcf2468a2e0b1ede2c5f98259abecd
https://doi.org/10.1007/s00270-018-2020-2
https://doi.org/10.1007/s00270-018-2020-2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.