Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"D. Zarr"'
Autor:
M. Adamson, D. Zarr, J. Walls, C. Jesse, T. Brozek, C. Ryu, Tse-Lun Tsai, S. Nayak, A. Rogers
Publikováno v:
2001 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 39th Annual (Cat. No.00CH37167).
The wafer level reliability (WLR) electromigration (EM) test is a quick test under very highly accelerated conditions using a parametric tester and prober on a full-sized wafer, which can provide cost effective and timely feedback on possible reliabi
Publikováno v:
The Journal of pharmacology and experimental therapeutics. 233(3)
We have identified mu, delta and kappa opioid binding sites in four types of neural membranes under conditions which include physiological concentrations of ions and an incubation temperature of 37 degrees C. We hypothesize that binding parameters de
Autor:
Stefan Zollner, D. Zarr
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
This article describes the optical constants of GaAs from 0.73 to 6.60 eV determined using spectroscopic ellipsometry. Our setup includes a computer-controlled MgF/sub 2/ Berek waveplate compensator, which allows exact measurements of the ellipsometr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::51ed25cb01361a294798211d5617b6b5
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0034424891&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0034424891&partnerID=MN8TOARS
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.