Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"D. Vook"'
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits. 36:1480-1488
The increasing number of interconnect layers that are needed in a CMOS process to meet the routing and power requirements of large digital circuits also yield significant advantages for analog applications. The reverse thickness scaling of the top me
Autor:
Amr M. Bayoumi, P.V. Voorde, Min Cao, Zhiping Yu, Chang-Hoon Choi, D. Vook, Tae-Young Oh, Robert W. Dutton, Carlos H. Diaz, Jung-Suk Goo
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 20:292-294
An equivalent circuit approach to MOS capacitance-voltage (C-V) modeling of ultrathin gate oxides (1.3-1.8 nm) is proposed. Capacitance simulation including polysilicon depletion is based on quantum mechanical (QM) corrections implemented in a two-di
Publikováno v:
2008 IEEE International Symposium on Precision Clock Synchronization for Measurement, Control and Communication.
This paper discusses a device, the spider transparent clock, which can be used to retrofit existing bridges and routers to allow them to deliver highly accurate time using the IEEE 1588 protocol. The spider transparent clock corrects for the internal
Publikováno v:
2008 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference.
In the field of measurement, many of the leading test and measurement, T&M, companies have formed the LXI Consortium with the explicit goal of specifying an Ethernet-based architecture for T&M instrument systems. This paper explores the LXI architect
Autor:
Tae-Young Oh, Min Cao, Robert W. Dutton, P.V. Voorde, Zhiping Yu, Chang-Hoon Choi, Amr M. Bayoumi, D. Vook, Jung-Suk Goo
Publikováno v:
1999 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.99CH36325).
Direct tunneling of ultra-thin gate oxides results in exponential increases in gate leakage current (Lo et al, 1997). Moreover, the loss of inversion charge due to the carrier quantization then becomes significant. Hence, more physically accurate mod
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits. 37:255-255
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.