Zobrazeno 1 - 10
of 81
pro vyhledávání: '"D. Verreck"'
Autor:
L. Panarella, B. Kaczer, Q. Smets, D. Verreck, T. Schram, D. Cott, D. Lin, S. Tyaginov, I. Asselberghs, C. Lockhart de la Rosa, G. S. Kar, V. Afanas'ev
Publikováno v:
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::decdeee84a7c5ca253289691124cc65a
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10117803
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10117803
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
M. Rosmeulen, C. Lockhart de la Rosa, K. Willems, S. Fransen, B.-Y. Shih, D. Verreck, V. Kalangi, F. Yasin, H. Philipsen, Y. T. Set, N. Ronchi, W. Van Roy, O. Y. F. Henry, A. Arreghini, G. Van den bosch, A. Furnemont
Publikováno v:
2022 IEEE International Memory Workshop (IMW).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cc094e59ba971d9e2551ac36ddac4552
https://doi.org/10.1109/imw52921.2022.9779295
https://doi.org/10.1109/imw52921.2022.9779295
Autor:
S. Rachidi, A. Arreghini, D. Verreck, G. L. Donadio, K. Banerjee, K. Katcko, Y. Oniki, G. Van den bosch, M. Rosmeulen
Publikováno v:
2022 IEEE International Memory Workshop (IMW).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::87d20af3b34e8525aa039e2b7299463b
https://doi.org/10.1109/imw52921.2022.9779303
https://doi.org/10.1109/imw52921.2022.9779303
Publikováno v:
Solid-State Electronics. 199:108498
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5ad27f1371a0550bb5728b44ca690012
https://doi.org/10.1016/j.sse.2022.108498
https://doi.org/10.1016/j.sse.2022.108498
Autor:
D. Verreck, A. Arreghini, F. Schanovsky, G. Rzepa, Z. Stanojevic, F. Mitterbauer, C. Kernstock, O. Baumgartner, M. Karner, G. Van den bosch, M. Rosmeulen
Publikováno v:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::26095c7e1e447b9e8c45dc618f0173b3
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720506
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720506
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.