Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"D. Vanderstraeten"'
Publikováno v:
IRPS
It is well-known that residual TiN on Al bond pads is detrimental to wire bond reliability. However, the exact reliability impact has not been reported. In this work, we characterize the effect of residual TiN on Au wire bond reliability during high
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::964104f0098c07ace36b94c93e73183e
https://doi.org/10.1109/irps45951.2020.9128891
https://doi.org/10.1109/irps45951.2020.9128891
Publikováno v:
2007 14th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits.
The authors show for the first time that metal-crush failures can also be caused by mechanical impact which occurs during handling of the package and pick and place processes. So, not only thermo-mechanical effects might cause these failures. The pap
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bf3b8170f88a8154a5d7ec806e6f92c0
https://doi.org/10.1109/ipfa.2007.4378086
https://doi.org/10.1109/ipfa.2007.4378086
Publikováno v:
Acoustical Imaging ISBN: 0306465167
The work performed in the STAMPEDE project on developing a comprehensive measurement methodology for the qualification and production monitoring of plastic packages using acoustic microscopy has been presented. Calibration test jigs were designed and
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6df8b605b680c8c83f7f00ea2d447ce0
https://doi.org/10.1007/0-306-47107-8_26
https://doi.org/10.1007/0-306-47107-8_26
Publikováno v:
Proceedings of the 2001 8th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2001 (Cat. No.01TH8548).
The equipment and software for X-ray laminography has advanced rapidly in recent years. The latest systems can distinguish features as small as 5 /spl mu/m in diameter and identify their locations to within 10 /spl mu/m in three dimensions within an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c91755b8bd3eafdd0aa4e3984779b869
https://doi.org/10.1109/ipfa.2001.941474
https://doi.org/10.1109/ipfa.2001.941474
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.