Zobrazeno 1 - 10
of 168
pro vyhledávání: '"D. Théron"'
Publikováno v:
Nature Communications, Vol 7, Iss 1, Pp 1-9 (2016)
Molecular electronics holds promise to overcome scaling limits of conventional technologies, but is currently limited to low frequency operation. Here, Trasobares et al. show radio frequencies of up to 17.8 GHz in a molecular diode based on ferroceny
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/83eecf1a8ac641e2877908ac9d981c6e
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
C. Morelle, D. Théron, I. Roch-Jeune, P. Tilmant, E. Okada, F. Vaurette, B. Grimbert, J. Derluyn, S. Degroote, M. Germain, M. Faucher
Publikováno v:
Applied Physics Letters
Applied Physics Letters, 2023, 122 (3), pp.033502. ⟨10.1063/5.0127987⟩
Applied Physics Letters, 2023, 122 (3), pp.033502. ⟨10.1063/5.0127987⟩
International audience; We report on an accelerometer micro-sensor based on epitaxial gallium nitride and silicon. The device is a vibrating beam accelerometer fabricated with a micro-electro-mechanical-system technology starting from an AlGaN/GaN he
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::811eb8872613848528d11b24ba8a8f85
http://hdl.handle.net/20.500.12210/80829
http://hdl.handle.net/20.500.12210/80829
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
21st International Scanning Probe Microscopy
21st International Scanning Probe Microscopy, May 2019, Louvain la Neuve, France
21st International Scanning Probe Microscopy, May 2019, Louvain la Neuve, France
We present a Scanning Electron and Microwave Microscopy (SEMM) that is a combination of complementary microscopy techniques. The SEMM namely combines Atomic Force Microscopy (AFM), Scanning Electron Microscopy and Vector Network Analysis (VNA). Combi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::396bfb05d5de84f097d86dc00a3c9238
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.