Zobrazeno 1 - 10
of 273
pro vyhledávání: '"D. Mangelinck"'
Publikováno v:
Micro and Nano Engineering, Vol 1, Iss , Pp 49-55 (2018)
The early formation of NiSi2 has been observed during the solid state reaction between Ni(W,Pt) films and Si (001) substrates at a temperature of 295 °C. The maximum contents of W and Pt additions are ~28 at.%. In-situ X-ray diffraction (XRD) measur
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/91a002f5cfd74ee7b4882154bce71b6b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
N. Mavrikakis, W. Saikaly, P.R. Calvillo, A.P.C. Campos, S. Jacomet, N. Bozzolo, D. Mangelinck, M. Dumont
Publikováno v:
Materials Characterization
Materials Characterization, 2022, 190, pp.112072. ⟨10.1016/j.matchar.2022.112072⟩
Materials Characterization, 2022, 190, pp.112072. ⟨10.1016/j.matchar.2022.112072⟩
International audience; Sn addition is known to affect the recrystallisation texture development of α-Fe. To date, even though the texture effect of Sn has been experimentally verified, although indirectly, the underlying mechanism has not been stud
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4faa5360281e719bc7b47247b062a5f8
https://hal.science/hal-03858777
https://hal.science/hal-03858777
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microelectronic Engineering. :111937
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6881c7757356f5b85d08563671fbf1b7
https://doi.org/10.1016/j.mee.2023.111937
https://doi.org/10.1016/j.mee.2023.111937
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Ultramicroscopy. 206
Correlative analysis is a powerful way to relate crystallographic and chemical information to the properties of materials. In this work, a procedure is proposed to select and analyze interfaces of polycrystalline thin film materials through correlati
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::7501a67a9f5ee5146a41705cad907677
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/31301607
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/31301607