Zobrazeno 1 - 10
of 102
pro vyhledávání: '"D. Arbet"'
Publikováno v:
Radioengineering, Vol 32, Iss 1, Pp 11-22 (2023)
This paper focuses on full integration of passive devices, especially inductors with emphasis on multi-layer stacked (MLS) structures of fully integrated inductors using patterned ground shield (PGS) and fully integrated capacitor. Comparison of di
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6da57255228e43f4a69b5c21fdceaba8
Publikováno v:
Radioengineering, Vol 27, Iss 1, Pp 171-185 (2018)
The paper brings an overview of main challenges and design techniques effectively applicable for ultra-low voltage analog integrated circuits in nanoscale technologies. New design challenges linked with a low value of the supply voltage and the proce
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/980dd0a4c28841d58a9b83fe3af0c12d
Publikováno v:
Radioengineering, Vol 25, Iss 2, Pp 321-331 (2016)
In this paper, a novel bulk-driven cross-coupled charge pump designed in standard 90 nm CMOS technology is presented. The proposed charge pump is based on a dynamic threshold voltage inverter and is suitable for integrated ultra-low voltage converter
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/aec52e50159f47ea9db5ed394bc0acf7
Publikováno v:
Radioengineering, Vol 23, Iss 3, Pp 931-938 (2014)
In this paper, an on-chip self-calibrated 8-bit R-2R digital-to-analog converter (DAC) based on digitally compensated input offset of the operational amplifier (OPAMP) is presented. To improve the overall DAC performance, a digital offset cancellatio
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0d08ef0015d24fd69ce18d510361ac5b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microprocessors and Microsystems. 38:359-367
In this article, an alternative approach to SRAM testing - the dynamic supply current test is presented, which is used to cover resistive opens considered as ''hard detectable'' type of physical defects. The investigation of the efficiency in unveili
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e14c74bc6579637da54351e525d9c7c7
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2014.04.006
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2014.04.006
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.