Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"D-ELM structure"'
Autor:
Lin Cheng, Hongliang Lu, Silu Yan, Chen Liu, Jiantao Qiao, Junjun Qi, Wei Cheng, Yimen Zhang, Yuming Zhang
Publikováno v:
Micromachines, Vol 14, Iss 11, p 2023 (2023)
In this paper, an aging small-signal model for degradation prediction of microwave heterojunction bipolar transistor (HBT) S-parameters based on prior knowledge neural networks (PKNNs) is explored. A dual-extreme learning machine (D-ELM) structure wi
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/8f67ca625fff4d80b58e9e81a72773b5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.