Zobrazeno 1 - 10
of 47
pro vyhledávání: '"Cywińska, Maria"'
Publikováno v:
Optics Express Vol. 30, Issue 23, pp. 42283-42299 (2022)
Fringe pattern based measurement techniques are the state-of-the-art in full-field optical metrology. They are crucial both in macroscale, e.g., fringe projection profilometry, and microscale, e.g., label-free quantitative phase microscopy. Accurate
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2310.15209
Autor:
Rogalski, Mikołaj, Cywińska, Maria, Ahmad, Azeem, Patorski, Krzysztof, Micó, Vicente, Ahluwalia, Balpreet S., Trusiak, Maciej
Quantitative phase microscopy (QPM) is often based on recording an object-reference interference pattern and its further phase demodulation. We propose Pseudo Hilbert Phase Microscopy (PHPM) where we combine pseudo thermal light source illumination a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2209.09518
Publikováno v:
In Optics and Lasers in Engineering December 2021 147
Autor:
Cywińska, Maria, Brzeski, Filip, Krajnik, Wiktor, Patorski, Krzysztof, Zuo, Chao, Trusiak, Maciej
Publikováno v:
In Optics and Lasers in Engineering October 2021 145
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; May 2023, Vol. 12574 Issue: 1 p125740N-125740N-4, 1131665p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.