Zobrazeno 1 - 10
of 5 113
pro vyhledávání: '"Cycling endurance"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Podlogar, Tim1,2,3 (AUTHOR) tim@tpodlogar.com, Cirnski, Simon3 (AUTHOR), Bokal, Špela2,3 (AUTHOR), Verdel, Nina4,5 (AUTHOR), Gonzalez, Javier T.6,7 (AUTHOR)
Publikováno v:
International Journal of Sport Nutrition & Exercise Metabolism. Nov2022, Vol. 32 Issue 6, p439-445. 7p. 3 Charts, 2 Graphs.
Autor:
Alam, Md Shah1,2 (AUTHOR) alam@ionq.com, Laing, Ryan3 (AUTHOR), Bolatbek, Zhanibek1 (AUTHOR), Heenkenda, Remona1 (AUTHOR), Gnawali, Rudra4 (AUTHOR), Payne, Tamara E.5 (AUTHOR), Sarangan, Andrew1 (AUTHOR), Hendrickson, Joshua R.4 (AUTHOR), Agha, Imad1,6 (AUTHOR) iagha1@udayton.edu
Publikováno v:
Advanced Functional Materials. 4/3/2024, Vol. 34 Issue 14, p1-10. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
This letter investigates the impact of self-heating on the post-cycling functionality of a scaled hafnium oxide-based ferroelectric field-effect transistor (FeFET). The full recovery of FeFET switching properties and data retention after the cycling
Externí odkaz:
https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A76775
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A76775/attachment/ATT-0/
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A76775/attachment/ATT-0/