Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Cui, Guangchao"'
Autor:
Sun, Yun, Li, Helin, Cui, Guangchao, Wu, Xinyu, Yang, Mengzheng, Piao, Yonggang, Bai, Zhongyang, Wang, Lin, Kraft, Michael, Zhao, Weisheng, Wen, Lianggong
Publikováno v:
In Micro and Nano Engineering June 2022 15
Autor:
Cui, Guangchao1 (AUTHOR), Zhou, Xiang1 (AUTHOR), Wang, Qian1 (AUTHOR), Zhang, Kai1 (AUTHOR), Qin, Lei1 (AUTHOR), Guo, Jixing1 (AUTHOR) guojixing@hainanu.edu.cn
Publikováno v:
International Journal of Molecular Sciences. Jan2023, Vol. 24 Issue 2, p1714. 12p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wu X; School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China.; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China., Bai Z; School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China.; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China., Wang L; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China., Cui G; School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China.; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China., Yang M; School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China.; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China., Yang Q; School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China.; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China., Ma B; Qingdao Institute of Bioenergy and Bioprocess Technology, Chinese Academy of Sciences, Qingdao 266101, China., Song Q; Qingdao Goertek Microelectronics Research Institute Co., Ltd., Qingdao 266104, China., Tian D; Qingdao Goertek Microelectronics Research Institute Co., Ltd., Qingdao 266104, China., Ceyssens F; ESAT-MICAS, KU Leuven, Kasteelpark Arenberg 10, B-3001 Leuven, Belgium., Puers R; ESAT-MICAS, KU Leuven, Kasteelpark Arenberg 10, B-3001 Leuven, Belgium., Kraft M; ESAT-MICAS, KU Leuven, Kasteelpark Arenberg 10, B-3001 Leuven, Belgium., Zhao W; School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China.; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China., Wen L; School of Microelectronics, Beihang University, Beijing 100191, China.; Beihang-Goertek Joint Microelectronics Institute, Qingdao Research Institute, Beihang University, Qingdao 266104, China.
Publikováno v:
Sensors (Basel, Switzerland) [Sensors (Basel)] 2019 Dec 20; Vol. 20 (1). Date of Electronic Publication: 2019 Dec 20.