Zobrazeno 1 - 10
of 142
pro vyhledávání: '"Cueff S"'
In this work we propose a general theoretical approach to the modelling of complex dispersion characteristics of leaky optical modes operating in photonic crystal slab composed of two high-index contrast gratings, beyond the protection of the light c
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2203.05226
Autor:
Redjem, W., Durand, A., Herzig, T., Benali, A., Pezzagna, S., Meijer, J., Kuznetsov, A. Yu., Nguyen, H. S., Cueff, S., Gérard, J. -M., Robert-Philip, I., Gil, B., Caliste, D., Pochet, P., Abbarchi, M., Jacques, V., Dréau, A., Cassabois, G.
Publikováno v:
Nature Electronics 3, 738-743 (2020)
Given its unrivaled potential of integration and scalability, silicon is likely to become a key platform for large-scale quantum technologies. Individual electron-encoded artificial atoms either formed by impurities or quantum dots have emerged as a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2001.02136
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Nanophotonics, Vol 13, Iss 6, Pp 841-858 (2024)
Standard optical characterization and spectroscopy techniques rely on the measurement of specular reflection, transmission, or emission at normal incidence. Although the usefulness of these methods is without question, they do not provide information
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9d7274fae25849b98272fb5bd26dde4d
