Zobrazeno 1 - 10
of 862
pro vyhledávání: '"Cryo-STEM"'
Autor:
Hart, James L, Siddique, Saif, Schnitzer, Noah, Funni, Stephen D., Kourkoutis, Lena F., Cha, Judy J.
The charge density wave (CDW) material 1T-TaS$_2$ exhibits a pulse-induced insulator-to-metal transition, which shows promise for next-generation electronics such as memristive memory and neuromorphic hardware. However, the rational design of TaS$_2$
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2309.06406
Autor:
James L. Hart, Saif Siddique, Noah Schnitzer, Stephen D. Funni, Lena F. Kourkoutis, Judy J. Cha
Publikováno v:
Nature Communications, Vol 14, Iss 1, Pp 1-7 (2023)
Abstract The charge density wave material 1T-TaS2 exhibits a pulse-induced insulator-to-metal transition, which shows promise for next-generation electronics such as memristive memory and neuromorphic hardware. However, the rational design of TaS2 de
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/95709d759a144c85b5583f8eff72e259
Publikováno v:
In Acta Biomaterialia 1 January 2023 155:482-490
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis, 2020
Atomic-resolution cryogenic scanning transmission electron microscopy (cryo-STEM) has provided a path to probing the microscopic nature of select low-temperature phases in quantum materials. Expanding cryo-STEM techniques to broadly tunable temperatu
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2001.11581
Publikováno v:
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 2017 Oct . 114(42), 11139-11144.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/26488931
Autor:
Savitzky, Benjamin H., Baggari, Ismail El, Clement, Colin, Waite, Emily, Sheckelton, John P., Pasco, Christopher, Admasu, Alemayehu S., Kim, Jaewook, Cheong, Sang-Wook, McQueen, Tyrel M., Hovden, Robert, Kourkoutis, Lena F.
Combining multiple fast image acquisitions to mitigate scan noise and drift artifacts has proven essential for picometer precision, quantitative analysis of atomic resolution scanning transmission electron microscopy (STEM) data. For very low signal-
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1710.09281
Autor:
Bowles William, Velazco-Torrejon Abner, Ramadurai Siva, Gallagher-Jones Marcus, Kirkland Angus, Siebert Alistair, Naismith James, Dumoux Maud
Publikováno v:
BIO Web of Conferences, Vol 129, p 13018 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a8100594ece245aeafe1d283dbc96835
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Savitzky, Benjamin H., El Baggari, Ismail, Clement, Colin B., Waite, Emily, Goodge, Berit H., Baek, David J., Sheckelton, John P., Pasco, Christopher, Nair, Hari, Schreiber, Nathaniel J., Hoffman, Jason, Admasu, Alemayehu S., Kim, Jaewook, Cheong, Sang-Wook, Bhattacharya, Anand, Schlom, Darrell G., McQueen, Tyrel M., Hovden, Robert, Kourkoutis, Lena F.
Publikováno v:
In Ultramicroscopy August 2018 191:56-65