Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Cruz, T.G.S."'
Measurement of the Nanoscale Roughness by Atomic Force Microscopy: Basic Principles and Applications
Publikováno v:
Atomic Force Microscopy-Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=intech______::33dc2af6aaee640f7c6a6df9eb4a558a
http://www.intechopen.com/articles/show/title/measurement-of-the-nanoscale-roughness-by-atomic-force-microscopy-basic-principles-and-applications
http://www.intechopen.com/articles/show/title/measurement-of-the-nanoscale-roughness-by-atomic-force-microscopy-basic-principles-and-applications
Publikováno v:
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena; 1999, Vol. 101 Issue: 1 p397-400, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.