Zobrazeno 1 - 10
of 126
pro vyhledávání: '"Crowe, Iain"'
Erbium implanted silicon (Er:Si) is a promising platform for quantum networking applications, but a major obstacle is the formation of multiple Er centres. We show that the previously identified cubic centre (Er-C) has C2v or lower symmetry. Using cr
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2408.09470
Autor:
Poudel, Ankit, Bhattarai, Pravin, Maharjan, Rijan, Curry, Richard J, Crowe, Iain F, Dhakal, Ashim
We demonstrate a compact (40 ${\mu}$m $\times$ 260 ${\mu}$m) spectrometer based on multimode interference aided by scattering of light from random SiO$_2$-filled hole arrays on a silicon-on-insulator platform. We characterize the performance of the s
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2209.10772
Autor:
Maharjan, Rijan, Bohora, Sanket, Bhattarai, Pravin, Crowe, Iain, Curry, Richard J., Hogg, Richard, Childs, David, Dhakal, Ashim
We demonstrate an on-chip Silicon-on-Insulator (SOI) axicon etched using a low resolution (200 nm feature size, 250 nm gap) deep-ultraviolet lithographic fabrication. The axicon consists of circular gratings with seven stages of 1x2 multimode interfe
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2008.05130
Autor:
Abdul Fattah, Tarek O., Jacobs, Janet, Markevich, Vladimir P., Abrosimov, Nikolay V., Halsall, Matthew P., Crowe, Iain F., Peaker, Anthony R.
Publikováno v:
In Journal of Science: Advanced Materials and Devices December 2023 8(4)
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alsalman, Osamah1 (AUTHOR) oalsalman@ksu.edu.sa, Crowe, Iain2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Jun2023, Vol. 23 Issue 11, p5332. 14p.
Autor:
Crowe, Iain Forbes
The original work presented in this thesis describes research into Si-based luminescent materials, prepared specifically by ion implantation and rapid thermal processing of thermal oxide films. An in-depth optical characterisation, employing photolum
Externí odkaz:
http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.526991
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Journal of Luminescence December 2019 216