Zobrazeno 1 - 10
of 474
pro vyhledávání: '"Critical charge"'
Autor:
Hong-Geun Park, Sung-Hun Jo
Publikováno v:
Applied Sciences, Vol 14, Iss 23, p 10961 (2024)
In space environments, radiation particles affect the stored values of SRAM cells, and these effects, such as single-event upsets (SEUs) and single-event multiple-node upsets (SEMNUs), pose a threat to the reliability of systems used in the space ind
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/fe81638f55e743d69169ba14c39a8272
Publikováno v:
فصلنامه علوم و فناوری فضایی, Vol 16, Iss 2, Pp 43-54 (2023)
In this paper, the sensitive volume and critical charge of a 65-nm CMOS SRAM as two important quantities in Single Event Upset (SEU) calculations have been determined. SEU is the most common event in space investigations. To this purpose, a memory ce
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3bd39fe625014f28a61a4178f8924718
Autor:
Pavan Kumar Mukku, Rohit Lorenzo
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 11, Pp 96256-96271 (2023)
Deep sub-micron memory devices play a crucial role in space electronic applications due to their susceptibility to single-event upset and double-node upset types of soft errors. When a charged particle from space hit a scaled memory circuit, the crit
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/8e2ab40adb8449e4acdc9c83bb8a0376
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 10, Pp 64161-64171 (2022)
Soft errors, aging effects and process variations have become the three most critical reliability issues for nanoscale complementary metal oxide semiconductor (CMOS) circuits. In this paper, the effects of bias temperature instability (BTI) and proce
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/a360af87fb014ba2bbee0dbc2dc3b367
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.